Prêtable
Nouveauté
| Titre : | La validation de méthode en spectrométrie d'émission optique à source plasma : ICP-OES ; de l'échantillon au résultat |
| Auteurs : | Commissariat à l'énergie atomique et aux énergies alternatives, Commission d'établissement des méthodes d'analyses, Auteur |
| Type de document : | texte imprimé |
| Editeur : | Paris [France] : EDP Sciences, 2017 |
| ISBN/ISSN/EAN : | 978-2-7598-2062-7 |
| Format : | 1 vol. (307 p.) / ill. / 24 cm |
| Langues: | Français |
| Langues originales: | Français |
| Index. décimale : | 543.5 (Spectroscopie optique (analyse spectrale,spectroscopie atomique et ultraviolette) |
| Catégories : | |
| Mots-clés: | Spectroscopie d'émission optique à source plasma ; Mesure ; Méthodes statistiques ; Qualité ; Contrôle |
| Résumé : | La spectrométrie d'émission atomique à source plasma (ICP-AES), commercialisée pour la première fois en 1974, s'est depuis rapidement et très largement déployée dans les laboratoires de caractérisation grâce à développements instrumentaux nombreux et majeurs. L'objectif de ce livre est de guider l'analyste durant tout le processus de validation de sa mesure, en garantissant la maîtrise de ses étapes principales : gestion administrative et physique des échantillons au laboratoire ; préparation et traitement de ceux-ci avant toute mesure ; qualification et suivi de l'appareillage ; réglages instrumentaux et stratégie d'étalonnage ; exploitation des résultats en termes de justesse, de fidélité, d'incertitude et d'exactitude (avec la détermination pratique du profil d'exactitude). À cette fin, le guide s'appuie sur la terminologie la plus actuelle et sur de nombreux exemples et illustrations destinées à faciliter la constitution des dossiers de validation de méthode. |
| Note de contenu : |
Sommaire:
Chapitre 1: Définitions 49 Chapitre 2: Gestion des échantillons au laboratoire 65 Chapitre 3: Préparation et traitement des échantillons Chapitre 4: Qualification et suivi de l’appareillage avant analy Chapitre 5: Réglages instrumentaux et stratégie d’étalonnage Chapitre 6: Exploitation des résultats Chapitre 7: Dossier de validation |
Exemplaires (1)
| Cote | Support | Localisation | Section | Disponibilité |
|---|---|---|---|---|
| F8/12464 | Livre | Bibliothèque de la Faculté de Technologie | Salle des livres | Disponible |
