Prêtable
| Titre : | Les semiconducteurs de puissance : De la physique du solide aux applications |
| Auteurs : | Pierre Aloisi |
| Type de document : | texte imprimé |
| Editeur : | Paris [France] : Editions Ellipses, 2001 |
| Collection : | TechnoSup |
| ISBN/ISSN/EAN : | 978-2-7298-0496-1 |
| Format : | 317 p. / couv. ill. en coul. / 24 cm. |
| Langues: | Français |
| Langues originales: | Français |
| Index. décimale : | 621.381 52 (Semi-conducteurs (dispositifs à cristaux, dispositifs optoélectroniques, miniaturisation, technologie des couches minces)) |
| Catégories : | |
| Mots-clés: | Semi-conducteurs ; Physique du solide |
| Résumé : |
L'ouvrage présente un panorama des commutateurs de puissance à semi-conducteurs en s'attachant à apporter à leurs utilisateurs et futurs utilisateurs des réponses pratiques aux problèmes spécifiques de chaque matériel. Partant des équations de la physique du solide et de l'image qu'on peut se faire du comportement des porteurs à l'intérieur des structures, l'auteur en déduit les lois de commande et de protection des composants, et il apporte des outils pour choisir le composant sûr et efficace dans une situation donnée. Les différents semi-conducteurs de puissance aujourd'hui largement utilisés sont ainsi étudiés : les diodes de commutation, les zéners, les transistors bipolaires, la famille des thyristors (dont le GTO ou le TRIAC), le mosfet, l'IGBT et les produits intégrés. Dans chaque cas, des lois simples sont dégagées pour une utilisation efficace et fiable. Puis sont analysées les violentes contraintes thermiques, mécaniques et électromagnétiques et leurs graves conséquences, pour aboutir enfin l'établissement d'un diagnostic en cas de défaillance.
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| Note de contenu : |
Sommaire :
Chapitre 1: Diodes de commutation Chapitre 2: Zéners et diodes à avalanche Chapitre 3: Transistor bipolaire de puissance Chapitre 4: Thyristors Chapitre 5: Mos de puissance Chapitre 6: IGBT Chapitre 7: Circuit intégré de puissance Chapitre 8: Résistance thermique Chapitre 9: La fatigue thermique Chapitre 10: Les causes de défaillance |
Exemplaires (1)
| Cote | Support | Localisation | Section | Disponibilité |
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| F8/1294 | Livre | Bibliothèque de la Faculté de Technologie | Salle des livres | Disponible |
