Prêtable
| Titre : | Statistique et probabilités : Exercices et problèmes |
| Auteurs : | Thérèse Phan ; Jean-Pierre Rowenczyk |
| Type de document : | texte imprimé |
| Editeur : | Paris [France] : Dunod, 2007 |
| Collection : | Sciences Sup |
| ISBN/ISSN/EAN : | 978-2-10-050861-7 |
| Format : | VI-238 p. / couv. ill. en coul. / 24 cm. |
| Langues: | Français |
| Langues originales: | Français |
| Index. décimale : | 519.076 (Probabilités et mathématiques appliquées - Problèmes et exercices) |
| Catégories : | |
| Mots-clés: | Statistique ; Probabilités |
| Résumé : |
Cet ouvrage se propose d'accompagner l'étudiant en Licence (Sciences de la Matière, Sciences de la vie) ou en ?cole d'ingénieurs dans son assimilation des connaissances. Dans chaque chapitre, le lecteur trouvera :
Un rappel de cours concis Des énoncés d'exercices et de problèmes Ces énoncés, en grande partie extraits de sujets d'examen, comportent des questions détaillées et progressives. Une rubrique "Du mal à démarrer ?" Si le lecteur est coincé dans la résolution d'un exercice et avant d'aller voir la solution, des indications lui sont proposées pour l'aider à bien démarrer. Les solutions complètes de tous les énoncés Chaque énoncé est intégralement corrigé. Lorsque c'est utile, une rubrique "Ce qu'il faut retenir de cet exercice" propose un bilan méthodologique. |
| Note de contenu : |
Sommaire :
Chapitre 1: Probabilités Chapitre 2: Convergences et échantillonnage Chapitre 3: Estimation ponctuelle Chapitre 4: Information et exhaustivité Chapitre 5: Estimateur sans biais de variance minimale Chapitre 6: Intervalles de confiance Chapitre 7: Tests paramétriques Chapitre 8: Tests d'adéquation et tests d'indépendance |
Exemplaires (3)
| Cote | Support | Localisation | Section | Disponibilité |
|---|---|---|---|---|
| F8/5076 | Livre | Bibliothèque de la Faculté de Technologie | Salle des livres | Disponible |
| F8/5077 | Livre | Bibliothèque de la Faculté de Technologie | Salle des livres | Disponible |
| F8/5897 | Livre | Bibliothèque de la Faculté de Technologie | Salle des livres | Disponible |
