Prêtable
| Titre : | Analyse structurale et chimique des matériaux |
| Auteurs : | Jean-Pierre Eberhart |
| Type de document : | texte imprimé |
| Editeur : | Paris [France] : Dunod, 1997 |
| Collection : | Sciences Sup |
| ISBN/ISSN/EAN : | 978-2-10-003367-6 |
| Format : | IV-614 p. / ill.; couv. ill. en coul. / 24 cm. |
| Langues: | Français |
| Langues originales: | Français |
| Index. décimale : | 541 (Chimie physique (Chimie inorganique et chimie organique)) |
| Catégories : | |
| Mots-clés: | Spectrométrie ; Analyse structurale ; Chimie des matériaux ; Microscopie électronique ; Analyse qualitative élémentaire ; Analyse quantitative élémentaire ; Analyse élémentaire ; Microanalyse élémentaire ; Analyse des surface |
| Résumé : |
"L'industrie a des besoins croissants en matériaux performants à caractéristiques bien définies. Ces besoins ont suscité le développement de méthodes d'étude et de contrôle de plus en plus sophistiquées, basées sur l'interaction de divers rayonnements avec la matière. Une bonne connaissance de ces méthodes est indispensable aux chercheurs qui étudient les matériaux, aux ingénieurs et techniciens chargés de leur mise au point, de leur fabrication et de leur contrôle. Cet ouvrage traite de façon cohérente et accessible à des non-spécialistes les bases théoriques et la pratique des techniques les plus importantes utilisant les rayons X, les électrons, les neutrons, les ions.
Illustré de nombreux schémas et photographies, complété par une abondante bibliographe, ce livre intéresse tout lecteur concerné par les matériaux : enseignants et étudiants des deuxième et troisième cycles universitaires et des écoles d'ingénieurs (spécialités physique, chimie, sciences de la Terre, instrumentation), chercheurs, ingénieurs et techniciens des laboratoires universitaires, publics et industriels (matériaux artificiels et naturels, physique et chimie du solide, sciences de la Terre, instrumentation scientifique...)." |
| Note de contenu : |
Sommaire :
Chapitre 1: Notions générales sur les rayonnements et la matière Chapitre 2: Notions générales sur l'interaction des rayonnements par la matière Chapitre 3: Diffusion cohérente des rayonnements par la matière Chapitre 4: Diffusion des rauonnements par un atome amplitude de deffusion atomique Chapitre 5: diffraction des rayonnements par un cristal Chapitre 6: Théorie élémentaire de la diffraction des électrons Chapitre 7: Emission de rayonnements secondaires Chapitre 8: Absorption des rayonnements dans un matériau Chapitre 9: Techniques de production des rayons x, électrons neutrons thermiques et ions Chapitre 10: Détection et mesure des rayonnements, détecteurs et spectromètres Chapitre 11: Diffraction des rayons x et des neutrons appliquée à l'étude des matériaux cristallisés Chapitre 12: Diffraction des électrons appliquée à l'étude de couches minces cristallines Chapitre 13: Données de spectromètrie Chapitre 14: Analyse élémentaire par spectrométrie de fluorescence x Chapitre 15: Microanalyse élémentaire par sonde électronique Chapitre 16: Analyse des surfaces par spectromètrie démission des photoélectrons et électrons auger Chapitre 17: Spectrométrie d'absorption des rayons x et de perte d'énergie des électrons Chapitre 18: Analyse des surfaces par spectrométrie d'émission d'ions secondaires Chapitre 19: Microscopie électronique à transmission Chapitre 20: Microscopie électronique à balayage Chapitre 21: Microscopie électronique à balayage en transmission, microscopie électronique analytique. Chapitre 22: Microscopie électronique à effet tunnel |
Exemplaires (2)
| Cote | Support | Localisation | Section | Disponibilité |
|---|---|---|---|---|
| T8/332 | Livre | Bibliothèque de la Faculté de Technologie | Salle des livres | Disponible |
| T8/336 | Livre | Bibliothèque de la Faculté de Technologie | Salle des livres | Disponible |
